當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 環(huán)境檢測(cè)儀器 > 熱像儀 > ATIC115小安電路板檢測(cè)熱像儀
簡(jiǎn)要描述:小安電路板檢測(cè)熱像儀ATIC115:高原始紅外像素,成像清晰 全局溫度點(diǎn)自動(dòng)追蹤,及時(shí)抓住瞬間電路缺陷 15種偽彩切換,讓缺陷顯示更有層次 免調(diào)焦,開機(jī)即用,省去對(duì)焦環(huán)節(jié) Type-C手機(jī)直連,超長(zhǎng)時(shí)間續(xù)航檢測(cè)連續(xù)性 研發(fā)級(jí)別實(shí)驗(yàn)平臺(tái) 操作簡(jiǎn)單同時(shí)測(cè)得穩(wěn)、測(cè)得 準(zhǔn)、測(cè)的快
詳細(xì)介紹
小安電路板檢測(cè)熱像儀ATiC 115 解決方案
電路板上的芯片或其它功率器件的溫度檢測(cè)在研發(fā)、 維修等環(huán)節(jié)有重要意義。研發(fā)階段,熱像儀解決了使 用傳統(tǒng)熱電偶布點(diǎn)、數(shù)據(jù)收集整理效率低下不夠直觀 的問(wèn)題,也給研發(fā)的后續(xù)設(shè)計(jì)改進(jìn)提供了***的信 息。維修階段,熱像儀直觀快速的定位故障點(diǎn),大大 降低維修操作的技能門檻,也***節(jié)約了檢測(cè)維修的 時(shí)間。
產(chǎn)品特點(diǎn) :
高原始紅外像素,成像清晰
全局溫度點(diǎn)自動(dòng)追蹤,及時(shí)抓住瞬間電路缺陷
15種偽彩切換,讓缺陷顯示更有層次
免調(diào)焦,開機(jī)即用,省去對(duì)焦環(huán)節(jié)
Type-C手機(jī)直連,超長(zhǎng)時(shí)間續(xù)航檢測(cè)連續(xù)性
研發(fā)級(jí)別實(shí)驗(yàn)平臺(tái) 操作簡(jiǎn)單同時(shí)測(cè)得穩(wěn)、測(cè)得 準(zhǔn)、測(cè)的快
支持MP4視頻錄制
電路板溫度變化全程留存
小安電路板檢測(cè)熱像儀ATiC 115信息參數(shù)
熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測(cè)物體的不同溫度。通過(guò)查看熱圖像,可以觀察到被測(cè)目標(biāo)的整體溫度分布狀況,研究目標(biāo)的發(fā)熱情況,從而進(jìn)行下一步工作的判斷。 現(xiàn)代熱像儀的工作原理是使用光電設(shè)備來(lái)檢測(cè)和測(cè)量輻射,并在輻射與表面溫度之間建立相互聯(lián)系。所有高于絕對(duì)零度(-273℃)的物體都會(huì)發(fā)出紅外輻射。熱像儀利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上,從而獲得紅外熱像圖,這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)。
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